電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標(biāo)準(zhǔn)匯編
第二版中國國標(biāo)出版社會 采標(biāo)IEC標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 *部分:總則
GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境更試驗 術(shù)語
GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A 低溫試驗方法
GB/T2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B 高溫試驗方法
GB/T2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca 恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db 交變濕熱試驗方法
GB/T2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb 設(shè)備用恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka 鹽霧試驗方法